下層二層流の実験結果より、密度界面近傍の乱流特性量（
流速勾配・密度勾配・乱れ強度・内部波高・連行速度）が界
面の摩擦速度を用いたクーリガンパラメータＫ（＝ｕ＊／ε
ｇｖ）で統一的に表現されることがわかった。　　　　　　
　また流速分布が界面付近では直線分布で、界面から離れた
所では対数分布で表現されることが確認された。　　　　　
　これらの成果を用いて界面抵抗係数、界面の安定限界及び
界面での連行係数の算定を行った。その結果、界面抵抗係数
は岩崎数のみの関数ではなく、レイノルズ数と内部フルード
数の関数となるとともに界面流速にも強く影響されることが
わかった。また界面での連行係数は従来考えられていたよう
な層平均リチャードソン数のみの関数ではなく、レイノルズ
数が影響することが明らかとなった。