環状の検定タンクと市販の定温度型Ａｎｅｍｏｍｅｔｅｒ
を使って、１≦Ｕ≦４０？／ｓｅｃの流速に対する小型のＨ
ｏｔ−ｆｉｌｍプローブのくわしい静的な特性試験を行なっ
た。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　測定中の水温変化によるドリフトは、ｏｖｅｒｈｅａｔｉ
ｎｇ　ｒａｔｉｏ　ａを一定に保つことにより除去でき、ま
た５〜６°Ｃ温度の異なる水でもａが一定なら流速−電圧曲
線は一致することが確認された。一方、回流式水路の流れの
中では、汚れによるドリフトがかなりひどいことがわかった
。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　流速ＵとＡｎｅｍｏｍｅｔｅｒ出力ＥＡの関係は通常ＥＡ
２＝Ｂ＋αＵｎの形で表せるが、上述の流速全域を対象とし
て最小２乗法で上式の定数を求めるとＢ＜０になることがわ
かった。通常のリニアライザーではＢ≧０にしか設定できな
いので、対象とする流速によってリニアライザーの最適な設
定が異なることが示される。　　　　　　　　　　　　　　
　最後に、流れの中におかれた格子の下流における乱れの測
定法とその結果について述べる。